粘性保護膜用臺式離線測厚儀TOF-C2介紹

發(fā)布日期：2022-02-18      瀏覽次數：1116

粘性保護膜用臺式離線測厚儀TOF-C2介紹



模型	TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號
測量方法	非接觸式/電容式
測量對象	薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜
測量原理	電容式

產品特點

• 高測量分辨率

• 由于是非接觸型，因此非常適合接觸型難以測量的薄膜。

• 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。

• 基重測量

• 操作簡單（具有自動介電常數設置功能）

產品規(guī)格

測量厚度	~ 500 微米
測量長度	10 至 10000 毫米
測量間距	1 毫米 ~
小顯示值	0.01微米
電源電壓	AC100V 50 / 60Hz
工作溫度限制	5-40℃（測量時溫度變化1℃以內）
濕度	35-80%（無冷凝）

離線式測厚儀是臺式緊湊型測厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測量。由于測量是在自動運輸的同時進行的，因此任何人都可以輕松快速地進行測量，并且不受測量者技能的影響是一大特點。
常用于質量控制部門和研發(fā)應用。此外，由于測量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經常用于充氣膜的制造現場。


型號：TOF-4R05

• 

• 測量方法

  線規(guī)/夾取法

• 測量對象

• 薄膜、片材

• 測量厚度

• 0.03 至 3 毫米

型號：TOF-5R01



測量方法



性規(guī)

• 測量對象

• 這個電影

• 測量厚度

• 0.02-0.2毫米

型號：TOF-6R001

• 

• 測量方法

• 
  
  線性規(guī)

• 測量對象

• 薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等）

• 測量厚度

• 5-100微米

型號：TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號

• 

• 測量方法

• 非接觸式
  電容式

• 測量對象

• 薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜

• 測量厚度

• ~ 500 微米

型號：TOF-S

• 

• 測量方法

• 非接觸式
  光譜干涉儀

• 測量對象

• 電子、光學用透明平滑膜、多層膜

• 測量厚度

• 1 至 50 μm（用于薄材料）
  10 至 150 μm（用于厚材料）　　　　

型號：TOF-M




• 測量方法

• 
  
  線性規(guī)

• 測量對象

• 鋼板或鋁板等金屬板

• 測量厚度

• 0.1-0.5毫米